如何測量MLCC SMT電容的電容值？許多客戶想要自己測試他們收到的電容，以驗(yàn)證其電容值。但測試結(jié)果可能不盡人意的原因有以下幾點(diǎn)。

1. 在測試中，未正確進(jìn)行測量或未在指定的測量條件內(nèi)進(jìn)行測量。
2. 測試中所用的儀表設(shè)置可能不正確，或者使用的測量設(shè)備不足以準(zhǔn)確測量MLCC。
3. 這些物料不應(yīng)包含在所列的規(guī)格范圍中——點(diǎn)擊這里 4獲取更多信息。
   以下是我們建議的測試步驟和檢查清單，以幫助工程師明確他們在測量過程中需要注意的內(nèi)容。
   第 1 部分：測量要求
   測量頻率和電壓對于正確測量陶瓷電容的值而言是非常重要的。請查看廠商和系列，并在規(guī)格書中找到你的電容，以確認(rèn)所需的測量頻率和電壓。
   [建議的檢查清單]

• 測量頻率：___________ Hz
• 測量電壓：___________ V
  第 2 部分：測量設(shè)備要求和設(shè)置
  由于大多數(shù)萬用表無法進(jìn)行配置以滿足某個電容的特定測量條件，因此通常使用LCR表來測量MLCC電容值。盡量使用測量夾具，以便在測量過程中保持樣品的穩(wěn)定性。然后打開LCR表的自動電平控制(ALC)功能。

圖1——打開ALC后，電壓電平顯示屏上就會出現(xiàn)“*”（星號）符號。
[提示：為什么要打開ALC？點(diǎn)擊這里 15了解詳情！]
[建議的檢查清單]

• 是否使用夾具（是或否）：_
• 是否打開自動電平控制（ALC）（是或否）：_
  第 3 部分：加熱處理（去老化）
  由于物理結(jié)構(gòu)的原因，2類（高介電常數(shù)）MLCC電容值會隨著時間的推移而逐漸減少。該屬性稱為電容的“老化”現(xiàn)象。這就是為什么客戶有時會發(fā)現(xiàn)其電容的電容值低于對應(yīng)的規(guī)格。一般來說，在150℃（+0/-10℃）下經(jīng)加熱處理（烘烤）1小時，并在室溫下冷卻24小時（+/-2小時）后，電容值可以恢復(fù)到所述規(guī)格。
  在測量電容值之前，應(yīng)在150℃+0/-10℃下加熱電容1小時，并在環(huán)境空氣中將其冷卻24±2小時。
  [建議的檢查清單]
• 哪一類MLCC（1類-C0G或NP0/ 2類-除C0G或NP0以外的其他電容）：_
• 該樣品是否在150℃+0/-10℃下加熱（烘烤）1小時，并在環(huán)境溫度中保持冷卻24±2小時？（是或否）：_

以上就是本文的全部內(nèi)容啦，主要講了如何測量MLCC SMT電容的電容值哦。有需要采購TDK貼片電容、電感、蜂鳴器、熱敏電阻和TDK-Lambda電源的話，就趕緊聯(lián)系TDK中國代理商智成電子吧！電話是13510639094，微信同號哦。